試料作製

  • 小型高周波誘導真空溶解炉
    (富士電波工業社製: FVM-10)

  • 高温熱処理炉
    (広築社製)

  • 卓上精密切断機
    (Metkon社製: MICRACUT 202)

  • 精密試料自動研磨機
    (Struers社製: TegraPol-21)

  • 振動研磨機
    (Buehler社製: VibroMet 2)

  • イオンスパッタ装置
    (日本電子社製: JEC-3000FC)

形状・組織観察

  • デジタルマイクロスコープ
    (KEYENCE社製: VHX-5000)

  • 工業用倒立顕微鏡
    (Leica社製: DMi8)

  • 3D測定レーザー顕微鏡
    (OLYMPUS社製: LEXTTM OLS5100)

  • 卓上走査電子顕微鏡
    (日本電子社製: JCM-6000)

  • 走査電子顕微鏡
    (日本電子社製: JSM-IT300)

  • エネルギー分散型X線分析装置
    (OXFORD社製: X-MaxN 50)

測定・分析

  • 示差走査熱量測定装置
    (Mettler-Toledo社製: DSC3+)

  • Bending Free Recovery方式
    変態温度測定装置

  • 炭素・硫黄分析装置
    (堀場製作所社製: EMIA-Pro)

  • 酸素・窒素分析装置
    (堀場製作所社製: EMGA-920)
    水素分析装置
    (堀場製作所社製: EMGA-921)

  • 波長分散型蛍光X線分析装置
    (リガク社製: ZSX Primus)

  • デスクトップX線回折装置
    (リガク社製: MiniFlex)

力学特性評価

  • マイクロビッカース硬さ試験機
    (ミツトヨ社製: HM-200)

  • 形状記憶合金ばね特性試験機
    (インテスコ社製)

  • 精密万能試験機
    (島津製作所社製: オートグラフ AG-Xplus)

  • 卓上型万能材料試験機
    (INSTRON社製: 68TM-50)

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